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靜電放電(ESD)和閂鎖(Latch-up)是集成電路(IC)較主要的場致失效模式。ESD靜電和閂鎖測試系統能有效觸發器件的潛在缺陷，驗證其防護能力。然而，測試本身僅能判斷“好壞”——器件是否失效。要真正理解失效機理、改進設計或工藝，關鍵在于精確定位損傷點。此時，光學顯微鏡(OM)和發射顯微鏡(EMMI)成為失效分析實驗室中關鍵的“火眼金睛”。第一步：電性失效分析與初步定位在ESD測試后，首先通過電性測試(如參數測試、功能測試)確認器件失效模式(如漏電、開路、短路)。利用液晶...

2025-12-04

ESD敏感器件(如集成電路、傳感器芯片)對靜電極為敏感，哪怕微弱的靜電放電都可能造成內部電路損壞，引發設備故障。抗靜電能力測試系統通過科學模擬靜電場景，成為驗證這類器件防護性能的核心工具，為電子產業鏈的質量安全保駕護航。?在測試方式上，系統需兼顧接觸放電與空氣放電兩種核心場景。接觸放電模擬人體直接觸碰器件時的靜電釋放，測試電壓需精準覆蓋±2kV至±30kV，能清晰記錄器件在不同電壓下的耐壓極限，比如某類芯片在15kV接觸放電后是否出現邏輯功能紊亂。...

2025-06-26

在現代科技高度發達的時代，靜電問題對電子設備的破壞性日益凸顯。因此，抗靜電能力測試系統成為了確保電子產品安全可靠運行的關鍵環節。抗靜電能力測試系統的核心原理是通過模擬實際靜電放電情況，評估電子產品的抗靜電能力。這一過程主要依賴于靜電放電模擬器（ESDSimulator）來實現。1、靜電放電模擬：靜電放電模擬器采用電容放電的原理，在被測產品與模擬器之間建立電容。通過模擬人體接觸到產品時可能產生的靜電放電，來評估產品的抗靜電能力。靜電放電模擬通常包括人體放電模式和設備放電模式，以...

2025-03-18

在半導體產業蓬勃發展的今天，靜電放電（ESD）對半導體器件的潛在威脅不容忽視。晶圓級ESD測試儀作為檢測和評估ESD防護能力的關鍵設備，正發揮著至關重要的作用。半導體制造過程非常復雜且精細，從晶圓制造到芯片封裝，每一步都可能受到ESD的影響。ESD產生的瞬間高壓和大電流，可能會擊穿半導體器件內部的微小結構，導致器件性能下降甚至失效。據統計，因ESD造成的半導體產品損失占總損失的相當比例，因此精確檢測和控制ESD至關重要。晶圓級ESD測試儀能夠在晶圓階段對ESD防護結構進行全面...

2025-01-17

隨著半導體技術的不斷進步，尤其是集成電路(IC)的復雜度不斷提高，器件的可靠性和性能測試變得愈加重要。ES622系列TLP脈沖IV曲線系統成為一種關鍵的測試工具，用于評估半導體器件在瞬態電流脈沖作用下的響應。本文將介紹TLP脈沖IV曲線系統在半導體器件中的應用，以及其在器件可靠性評估中的重要作用。TLP脈沖IV測試原理TLP脈沖IV曲線系統通過施加瞬態電流脈沖（通常是短時間的高電流脈沖）來模擬器件在實際工作環境中可能遇到的極端情況。該系統測量半導體器件在受到脈沖電流作用時的電...

2024-12-18

在集成電路(IC)和其他微電子器件制造過程中，靜電放電(ESD)是導致產品缺陷和失效的一個主要因素。因此，利用專業的芯片靜電測試設備來檢測和驗證IC對靜電的承受能力變得至關重要。這類設備不僅能幫助工程師們識別薄弱環節，還能促進產品設計和工藝的不斷改進，以提升整體可靠性。靜電測試的目的1.質量控制：確保每一批次產品的靜電防護達到預定標準。2.故障分析：確定ESD事件對芯片的影響，追蹤根本原因。3.合規性驗證：滿足國內外相關標準的要求，如IEC61000-4-2（人體模型）和MI...

2024-11-20